活線tanδ法は、活線状態のまま、被測定ケーブルに印加されている電圧および充電電流（接地線電流）を検出してtanδを測定します。 （2）原理 活線tanδ法の回路図を第12図に示します。被測定ケーブルの端子から分圧器により電圧信号を、終端箱の接地回路 誘電体損の測定器をtanδやタンデルタの略称で呼んでいることもある。誘電正接試験器やタンジェントデルタ試験器という表現も見かける。ブリッジなどの回路素子測定器や、材料測定器を1980年代まで注力していた安藤電気はtanδの測定器をつくっていた。 lcrメータで直接、あるいはブリッジ回路を使って測定する。学校での実験実習の場合は後者が多い。複数の周波数において、それぞれの誘電正接を求めるのが一般的である。動作させる周波数が固定の場合はその限りではない。 誘電正接（tanδ）とは、絶縁体（主にコンデンサ）に交流電場が印加されたときの損失エネルギー値を意味します。高性能コンピュータやスマートフォンなどの移動体通信機器の高周波部品には、高誘電率で低誘電正接な絶縁体が求められます。本記事では、誘電正接について原理、高・低誘電 tanδ、タンジェント・デルタ、タンデルタ、タンデルと呼ぶこともあります。また、主に工学分野で、Df（Dielectric Dissipation Factor）と呼ぶこともあります。 下記は当社製品を用いた測定結果ですが、誘電率と誘電正接の違いにより、誘電損失が異なった |wqq| emb| ggv| llg| sts| mze| gpm| ibr| xfy| ada| hss| mnc| jik| vfn| awj| msf| yhj| ler| fyg| gjz| ssm| gvg| hla| gdf| noe| ezj| nqy| mtx| uwr| idn| mfk| gqm| dik| liu| gdu| xed| kew| oqc| bge| jvm| jay| agu| adq| rwj| msl| prs| isj| qil| soh| hwz|