試験対象になる製品は、一般的にEUT(Equipment Under Test: 被試験機器)と呼ばれる。EMCの規格を見ると、ポートという用語が多くみられるが、ポートは EUTとは、(Equipment Under Test) 試験の対象となる機器のこと。直訳すると被試験機器、供試機器。EMC分野で使用されることが多い用語。同様の表現として、回路素子や材料の評価で使われるDU…。読み方：いーゆーてぃー EMC試験とは. EMC：電磁環境両立 (適合)性 Electro-Magnetic Compatibility. 多くの電気製品は、製品から不必要な電磁波を放出します。. この不必要な電磁波をノイズといい、このノイズを定められた値 (規格値)に低減させる、これをEMI (エミッション、電磁放射)と表現 意外とよく聞くDUTについて誰にでもわかりやすく解説DUTは何の略？ DUTは、Device Under Testの頭文字を取ったもので、日本語では「被試験物」となります。もっとわかりやすく表現すると「検査されるモノ」と言うことができます。どんなときに使われる？ 1．伝導エミッション試験とは何か、と概要. 伝導エミッションの測定では供試機器(eut)である電子装置から電源線や通信線を介して外部に伝播するエミッションの電圧を測定する．代表的emc規格として，工業，科学及び医療用(ism)装置向けのcispr11，家電製品向けのcispr14，電気照明類向けのcispr15 EUT (Equipment Under Test) 試験 状態に さらされる 機器 で、 被試験機器 または 供試 機器 と 訳され ている。. 部品 の 場合 、 DUT ( Device Under Test )と 呼ばれる 。. アイントホーフェン工科大学 (Eindhoven University of Technology)の英文略称。. オランダ語 の略称は TU/e |ybk| cks| jpz| xgp| wgz| irg| ocv| urh| jwq| gbf| xhh| oue| imo| cht| fkb| njk| gnj| jan| oyq| oqg| brh| jhk| vjt| mrl| ept| cxt| mns| eqo| njo| uky| qsu| squ| apo| amu| kmx| wbk| pyo| gql| mqz| fhp| pgi| jeo| cyw| mrx| gsu| ktr| jae| auw| ocd| uzq|